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PCT加速壽命老化箱采用自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護。圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構，符合工業(yè)安全容器標準， 可防止試驗中結露滴水設計。

PCT高溫高壓蒸煮儀采用強力噴塵裝置，使用者可于面板上獨立操控F1、F2、F3之條件。采用振動設備可使每次噴塵濃度相同。精密的粉塵濃度收集器，可減少因操作不當而錯估濃度。符合JAS規(guī)格并可提供JAS規(guī)定測試用粉塵（6or8種）。

磁性材料PCT高溫老化箱ED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣品質(zhì)。一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

pct蒸汽老化試驗箱規(guī)格/性能是一款可實現(xiàn)高溫、高壓、高濕等實驗條件的加速老化箱，屬特種壓力設備，大大加快了客戶對產(chǎn)品老化情況的了解。

pct老化試驗箱測試結構及裝置： 1、圓形橫置式內(nèi)槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴水結露現(xiàn)象，可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員、 2、程序自動停機，自動泄壓，自動破真空，自動給水，每次加水可持續(xù)運行100小時（可根據(jù)客戶要求訂制，也可做成全自動補水系統(tǒng)）

PCT高壓加速壽命老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)